OP5240I（膜厚儀）
涌淳半導體專注于半導體工藝設備的研發、制造、銷售及售后一體化服務，提供半導體廠商工藝設備的一站式解決方案。
關鍵詞：
半導體設備、半導體工藝
所屬分類：
產品描述
Opti-Probe 5000 用于非接觸式晶圓膜厚測量，通過測量單層或多層晶圓上薄膜的光學參數（反射光和建模的薄膜參數），計算出薄膜厚度。Opti-Probe 5000 集成了多達六種不同的技術來測量薄膜厚度以及反射率，使用 laser，white light lamp，D2 lamp 等光源進行測量。
產品詢價
